직무 · 삼성전자 / 공정기술
Q. 삼성전자 공정기술 계측 데이터 해석
데이터를 보고 이상점이 있으면 관련 파라미터나 설비를 조정해 '공정 최적화'하는 것으로 알고 있습니다. 1. ellipsometer 계측에 의한 C-V 데이터를 비판적으로 수용 2. 산화막 두께 CET값으로 계산한 것과 계측 데이터 간의 오차를 분석 3. 실험 이론값의 변수를 재정의 (LPCVD 공정에 의한 산화막 증착 원리를 기반으로 재해석) 4. 오차 문제 해결 이와 같은 문제해결 경험이 공정기술 엔지니어의 필요 역량으로 어필이 가능할까요? 가능하다면 어떤 식으로 역량을 내세우는게 좋을지 조언 부탁드립니다.
2026.03.05
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